調査分析

熱処理・FPP等の品質管理/保証として、分析機器を保有しています。又有償でも賜ります。

X線回折分析装置


X線回折分析装置


稼働画面

「残留応力測定」

X線回折によって求められた結晶格子間隔の歪みの残留応力を測定し、採取データを換算し、数値として求めることにより、測定できます。

「残留オーステナイト%量測定」

X線回折によって求められたγ相を測定し、α相との回折プロセスの積分強度と比較することによって体積%を求めることができます。

「X線回折による各測定の特長」

  • 非破壊分析
  • 深さ数十ミクロンまでの試料採取データ
  • 試料の微小部分の局所的残留応力分析が可能

残留応力測定分布

走査型電子顕微鏡


走査型電子顕微鏡


稼働画面

「表面観察(SEM)」

試料に電子ビームを照射して、表面から放出された 2次電子や反射電子、X線等を検出することで対象物を観察できます。また表面の凹凸を3次元的にも観察できます。

「簡易元素分析(EDS)」

電子線やX線等の1次線を対象物に照射したときに生じる特性X線を検出させて、その得たエネルギ-と強度から物体を構成する元素と濃度を調べることが可能です。

「走査型電子顕微鏡の事例」